Soluções para identificação e quantificação de elementos químicos com mínima preparação de amostras.

A Tecnal segue expandindo seu portfólio de soluções analíticas com uma nova parceria com a Z-SPEC Inc., empresa fundada pelo inventor da técnica HDXRF (High-Definition X-ray Fluorescence) e especializada no desenvolvimento de analisadores por fluorescência de raios X.

Com essa nova colaboração, a Tecnal passa a oferecer ao mercado brasileiro soluções para identificação e quantificação de elementos químicos em diferentes tipos de amostras, atendendo laboratórios e indústrias que buscam análises rápidas, precisas e com menor complexidade operacional.

Quem é a Z-Spec?

A Z-SPEC Inc. é uma empresa norte-americana voltada ao desenvolvimento de soluções para análise elementar, utilizando tecnologia de espectroscopia de fluorescência de raios X. Seu portfólio inclui analisadores que podem ser usados em bancadas ou até um campo.

A empresa tem como base tecnológica a espectroscopia de fluorescência de raios X de alta definição (HDXRF), que combina precisão analítica com praticidade operacional, reduzindo a necessidade de preparo complexo de amostras e permitindo resultados em menor tempo.

Fluorescência de raios X (XRF): o princípio por trás dos analisadores

A espectroscopia de fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica consolidada para análise elementar qualitativa e quantitativa. Seu princípio baseia-se na emissão de radiação característica por elementos químicos quando excitados por raios X. Cada elemento possui uma assinatura energética única, o que permite sua identificação e quantificação.

O processo ocorre em quatro etapas:

· Irradiação da amostra com raios X de alta energia

· Emissão de fluorescência característica pelos elementos presentes

· Detecção da intensidade dos sinais emitidos por um detector

· Processamento dos dados para determinação das concentrações elementares

Entre as principais características da técnica XRF estão:

· Análise não destrutiva

· Ausência de reagentes químicos e digestão de amostras

· Mínima preparação de amostra

· Capacidade de análise simultânea de múltiplos elementos

· Reprodutibilidade e rapidez nos resultados

· Melhor desempenho para amostras em altas concentrações em comparação a métodos alternativos

Essas características tornam a XRF uma opção prática para triagem, monitoramento de rotina e controle de processo, especialmente quando se busca agilidade operacional e menor geração de resíduos químicos. Para fins regulatórios ou de confirmação, a técnica costuma ser utilizada em conjunto com métodos de referência como ICP e AAS.

HDXRF: o que diferencia essa abordagem da XRF convencional

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A tecnologia HDXRF utiliza um princípio distinto da XRF convencional. Em vez de irradiar a amostra com um feixe de múltiplas energias, o sistema gera uma excitação monocromática por meio de cristais duplamente curvados (Doubly Curved Crystal, DCC), que capturam os raios X provenientes de uma fonte divergente e os redirecionam em um feixe focalizado e de alta intensidade, diretamente na superfície da amostra.

O resultado prático dessa abordagem é uma redução significativa do ruído de fundo no espectro, o que melhora diretamente a relação sinal-ruído e permite detectar elementos em concentrações menores.

Abaixo, uma imagem que mostra a comparação do sinal ruido do XRF e HDXRF (em vermelho):

Aplicações da análise elementar por fluorescência de raios X

Os analisadores Z-Spec podem ser utilizados em diferentes setores industriais e laboratoriais:

· Alimentos e bebidas: detecção de contaminantes e análise de nutrientes

· Meio ambiente: análise de solos e sedimentos para monitoramento de metais pesados

· Agricultura: determinação de nutrientes e metais em plantas e solos

Modelos de analisadores Z SPEC

A linha de equipamentos da Z SPEC foi desenvolvida para atender diferentes necessidades analíticas.

Elite

Voltado para análises que exigem alta sensibilidade na faixa de elementos leves, o ELITE é indicado para amostras de alimentos, plantas e solos.

· Faixa de elementos: Na a Ca

· Tempo de análise: 30 a 900 segundos

· Limites de detecção (ppm em análise de 300s): Na: 500 | Mg: 50 | Al: 10 | Si: 3 | P: 2 | S: 0,3 | Cl: 0,2 | K: 0,2 | Ca: 0,2

Emax

· Faixa de elementos: até 40 elementos de K a U

· Tempo de análise: 30 a 1.800 segundos

· Limite de detecção em modo screening (ppm): Cd: 0,15 | As: 0,6 | Hg: 1,2 | Pb: 2 | Cr: 15 |Cu: 1,5 | Ni: 3 | Zn: 1,5 | Mn: 15 | Co: 40 | Se: 1,5 | V: 100 | Sb: 0,2 | TI: 1,2 | Mo: 1,5

Limite de detecção em modo quantificação (ppm): Cd: 0,05 | As: 0,2 | Hg: 0,4| Pb: 0,8 | Cr: 5 |Cu: 0,5 | Ni: 1 | Zn: 0,5 | Mn: 5 | Co: 16 | Se: 0,5 | V: 40 | Sb: 0,07 | TI: 0,4 | Mo: 0,5

JP500

Voltado para aplicações que exigem limites de detecção muito baixos, o JP500 é especialmente indicado para quantificação de elementos como Pb, As e Hg.

· Faixa de elementos: até 40 elementos de Al a U

· Tempo de análise: 30 a 1.200 segundos

· Limite de detecção em modo Scan (ppm em análise de 100s): As: 0,035 | Hg: 0,035 | Pb: 0,07 | Cr: 0,25 | Cu: 0,06 | Ni: 0,07 | Zn: 0,06

· Limite de detecção em modo quantitativo (ppm em análise de 600s): As: 0,015 | Hg: 0,015 | Pb: 0,03 | Cr: 0,10 | Cu: 0,025 | Ni: 0,03 | Zn: 0,025

Parceria que amplia o portfólio analítico da Tecnal

A parceria entre Tecnal e Z-Spec traz ao mercado brasileiro uma linha de analisadores elementares com base em tecnologia de fluorescência de raios X de alta definição, cobrindo desde análises laboratoriais de bancada até aplicações em campo.

Com equipamentos desenvolvidos para diferentes demandas analíticas e setores de aplicação, essa parceria fortalece a atuação da Tecnal como fornecedora de soluções para análise química em laboratórios industriais, de pesquisa e de controle de qualidade.

Para saber mais sobre os analisadores Z-Spec ou solicitar informações técnicas, entre em contato com a equipe Tecnal.